MOSFET|三极管L-IV测试专用SMU认准普赛斯仪表，国产自主研发，相比2400，B2901进口源表，测量范围更广，电压高300V，电流低至100pA；可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；详情请联系普赛斯仪表销售专员为您解答一八一四零六六三四七六

一、源表定义

“源表”又称“数字源表”、“源测量单元”，是一种可编程控制，作电压源或电流源提供精确的电压或电流，并同步测量和IV扫描的通用仪表。

二、源表特点：

多功能：可作源和负载，又能测；

高效率：满足多种测试需求；

可编程控制：高精度可调，灵活控制；

IV扫描：快速、直观显示，一步操作。

三、应用领域：

分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

四、测试功能：